实验室镀层厚度膜厚仪 用于检测选择材料
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产品描述

元素分析范围从硫(S)到铀(U) 同时可以分析元素30种以上元素,五层镀层 分析含量一般为ppm到99.9% 镀层厚度一般在50μm以内 探测器探测器
ROHS光谱仪镀层测厚仪特点:
样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证
X射线荧光法镀层测量标准
国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
美国标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
实验室镀层厚度膜厚仪
镀层FP软件测厚准确度
单镀层和多镀层样品中外层分析精度比较高,一般相对误差在5%以内, 其测量的稳定性也比较好;
多层样品中内层镀层的分析精度逐层下降,一般*二层相对误差在10%,*三层相对误差20%;
具体测试精度需依靠相应厚度标样进行校正,以达到相应精密度需求。
实验室镀层厚度膜厚仪
镀层样品测试注意事项:
首先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,ROHS光谱仪XRF荧光测厚仪多可以测6层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底材元素含量不一致的,则需要进行基材修正,选用样品所相似的底材进行曲线标定 。
实验室镀层厚度膜厚仪
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
ROHS光谱仪XRF仪器使用注意事项
开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏;同时,还要注意轻拿轻放(使用镊子等器具取放样品),以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后,仪器都必须先预热30分钟,然后进行初始化,方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时,需从程序栏中选择其对应的选项,才能保证的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常,需定期对仪器的各项参数进行测试,并进行调整。
http://skyray1.b2b168.com

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