元素分析范围从硫(S)到铀（U）
同时可以分析元素30种以上元素，五层镀层
分析含量一般为ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内
探测器探测器
镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是ROHS光谱仪集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加精准。
镀层膜厚检测：有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析：精确检测电镀液成分及浓度，确保镀层质量
水质在线监测：有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量，已达到排放标准
RoHS有害元素检测：为电镀产品符合RoHS标准，严把质量关
重金属及槽液杂质检测：有效检测电镀成品，以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
X光射线法原理
X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
应用特点：精确，测量镀层范围广，适合细微面积及**薄镀层的测量。
ROHS光谱仪仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
XRF分析仪器的特点
1、快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样品可不处理或进行简单处理。
2、无损：物理测量，不改变样品性质
3、准确：对样品可以精确分析
4、直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快
5、环保：检测过程中不产生任何废气、废水
X射线的防护
1、距离防护，I—1/S2
2、时间防护，I—t
3、屏蔽防护, Pb、Fe等
1希沃特（SV）＝100雷姆（R）
世界卫生组织制定：全身照射年累积剂量：5R＝50msv
2001年我国制定的有关标准为：50msv／Year
VXQ－150A 机外：<<0.001msv/Hour---- <9msv/year
一般金属0.5mm就可以衰减99％。一个人可以工作600年而没有危险。人体不同的部位对射线的承受能力也不相同，依由弱到强的顺序排列：眼>腹部>盆腔>头部>胸部>四肢>
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