元素分析范围从硫(S)到铀(U)
同时可以分析元素30种以上元素,五层镀层
分析含量一般为ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内
探测器探测器
XRF分析中的术语
1.精密度
定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说,精密度就是重现性(Reproducibility或Repeatability)。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的,测量的时间越长,则精度越高。
2.重复性
定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。
3.准确度
定义为各次测定值mi对于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,准确度也一定差。反之,准确度很差,精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和准确度都要求高。
4. 误差
X荧光分析的误差往往是很难计算的,所以,通常情况下,把统计涨落引起的误差作为测量的误差。
5.检出限(Limit of detection)
当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量,就称为检出限(或叫检出限)。这时候,测到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.测定检出**,一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样(基体)的不同而不同。
6.计数统计误差
物质的测量中,假设仪器稳定性、机械在现性可确保,由仪器机械产生的误差可以忽略不计,但计数统计误差还是不能消除。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值(N)的分布属于随机事件,其标准偏差由 N求出。 N就叫统计误差。时间越长,则相对偏差就越小,即精度就越高。
X光射线法原理
X射线射到电镀层表面,产生X射线荧光,根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
应用特点:精确,测量镀层范围广,适合细微面积及**薄镀层的测量。
XRF分析仪器的特点
1、快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。
2、无损:物理测量,不改变样品性质
3、准确:对样品可以精确分析
4、直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快
5、环保:检测过程中不产生任何废气、废水
X射线荧光法镀层测量标准
国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
美国标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:精确检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
-/gbbdabg/-
X射线的防护
1、距离防护,I—1/S2
2、时间防护,I—t
3、屏蔽防护, Pb、Fe等
1希沃特(SV)=100雷姆(R)
世界卫生组织制定:全身照射年累积剂量:5R=50msv
2001年我国制定的有关标准为:50msv/Year
VXQ-150A 机外:<<0.001msv/Hour---- <9msv/year
一般金属0.5mm就可以衰减99%。一个人可以工作600年而没有危险。人体不同的部位对射线的承受能力也不相同,依由弱到强的顺序排列:眼>腹部>盆腔>头部>胸部>四肢>
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