无损电镀镀层测厚仪 电镀镀层测厚仪
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产品描述

元素分析范围从硫(S)到铀(U) 同时可以分析元素30种以上元素,五层镀层 分析含量一般为ppm到99.9% 镀层厚度一般在50μm以内 探测器探测器
电镀所带来的废气、废水、废渣严重地影响人们的生活与健康。要提高电镀企业的实力就必须从企业的硬件着手。而内部管控测试是必不可少的环节,其中产品膜厚检测、RoHS有害元素检测、电镀液分析、电镀工业废水、废渣中的重金属检测和水质在线检测等更是重中之重。为此江苏ROHS光谱仪仪器股份有限公司基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。
X光射线法原理
X射线射到电镀层表面,产生X射线荧光,根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。
应用特点:精确,测量镀层范围广,适合细微面积及**薄镀层的测量。
无损电镀镀层测厚仪
XRF分析仪器的特点
1、快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。
2、无损:物理测量,不改变样品性质
3、准确:对样品可以精确分析
4、直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快
5、环保:检测过程中不产生任何废气、废水
无损电镀镀层测厚仪
ROHS光谱仪仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口**上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品*形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种**的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
无损电镀镀层测厚仪
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
X射线的防护 
1、距离防护,I—1/S2
2、时间防护,I—t
3、屏蔽防护, Pb、Fe等
     1希沃特(SV)=100雷姆(R)
   世界卫生组织制定:全身照射年累积剂量:5R=50msv
   2001年我国制定的有关标准为:50msv/Year
   VXQ-150A 机外:<<0.001msv/Hour---- <9msv/year
   一般金属0.5mm就可以衰减99%。一个人可以工作600年而没有危险。人体不同的部位对射线的承受能力也不相同,依由弱到强的顺序排列:眼>腹部>盆腔>*>胸部>四肢>

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